000 | 00928nam a22002777a 4500 | ||
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003 | UCC | ||
005 | 20230307124330.0 | ||
008 | 220728t1976 |||d|||f |||| 001 0 eng d | ||
020 | _a0471018171 | ||
040 | _aUCC | ||
041 | _aeng | ||
082 | 0 |
_a371.26 _bI61a |
|
111 |
_aInternational Symposium on Educational Testing _cMontreux _d1975 _n2 |
||
245 | 1 | 0 |
_aAdvances in Psychological and Educational Measurement / _cDato N. M De Gruijter, Leo J. van der Kamp |
300 |
_a320 páginas ; _c24 centímetros |
||
500 | _aIncluye índice | ||
500 | _aLibro perteneciente a la Colección ICCE/España | ||
541 | _aComodato ICCE/ España | ||
650 | 1 | 4 |
_aPruebas y mediciones educativas _xCongresos |
650 | 1 | 4 | _aMedición educativa |
700 | 1 | _aDe Gruijter,Dato N. M | |
700 | 1 | _avan der Kamp, Leo J. | |
942 | _cIT01 | ||
999 |
_c173968 _d173968 |
||
264 |
_aEstados Unidos de América : _bJohn Wiley & Sons, _c1976 |
||
852 |
_a1 _b1 _c1 |